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Delphi CLEM熒光掃描電鏡一體機(jī)是荷蘭掃描電鏡制造商 Phenom-World 和荷蘭熒光顯微鏡制造商 Delmic 于 2014 年聯(lián)合推出的將熒光顯微鏡和臺(tái)式電鏡高度整合在一起的設(shè)備。
Phenom GSRqiang擊殘留物臺(tái)式掃描電鏡在qiangzhi犯罪事件中,qiang擊殘留物 GSR 的分析將發(fā)揮重要的作用。GSR 分析技術(shù)首先基于掃描電子顯微鏡 (SEM) 的背散射成像,用來(lái)掃描樣品和發(fā)現(xiàn)可疑的 “GSR” 顆粒。一旦發(fā)現(xiàn)可疑的顆粒,使用能譜識(shí)別在該粒子中的元素。Z常見(jiàn)的搜索元素為 Pb,Sb 和 Ba。無(wú)鉛底火的檢測(cè),例如 Ti 和 Zn 也可Z為搜索條件進(jìn)行搜索。
Phenom Pure 高性?xún)r(jià)比標(biāo)準(zhǔn)版電子顯微鏡是一款操作方便、界面友好的臺(tái)式電鏡,用慣光學(xué)顯微鏡的用戶(hù)只需稍加培訓(xùn)即可輕松操作這款電鏡。這款電鏡具有掃描電鏡的一切基本功能,可以滿(mǎn)足用戶(hù)的大部分成像需求。
Phenom Pro高分辨率專(zhuān)業(yè)版電子顯微鏡是飛納電鏡系列中良好的產(chǎn)品,第五代 Phenom Pro 放大倍數(shù)提升為 150,000 倍,分辨率優(yōu)于 8 nm,30 秒快速得到表面細(xì)節(jié)豐富的高質(zhì)量圖像,是目前世界上分辨率Z高的臺(tái)式掃描電鏡,可用于測(cè)量亞微米或納米尺度的樣品;
Phenom ProX 是第五代電鏡能譜一體機(jī),是*的集成化成像分析系統(tǒng),分辨率提升 20%,進(jìn)一步增加應(yīng)用范圍,更加適用于對(duì)電子束敏感的樣品。借助該系統(tǒng),既可觀察樣品的表面形貌,又可分析其元素組分。